名古屋大学シンクロトロン光研究センター

Nagoya University Synchrotron radiation Research center

BL8S3 - 有機・高分子材料分析 (広角/小角散乱)

ビームライン概要

X線小角散乱法により,分子薄膜や繊維など,主に有機・高分子材料の構造を解析する.数オングストロームから約300ナノメートルまでの範囲の構造の測定が可能.

研究利用分野

ナノ粒子のサイズと分布評価.ナノ粒子の表面コート厚の評価.液晶デイスプレイ用有機薄膜の分子配向などの薄膜構造解析.繊維,球晶,高分子アロイなどの階層構造解析.巨大分子の立体構造・溶液構造.非晶質透明導電膜の構造評価.非破壊による材料の弾性率測定.切削工具被膜の残留応力測定など.

ビームライン性能(計算値)1結晶分光器(Ge(111), Ge(220))

光エネルギー
8.2,13.5 keV
ビームサイズ
0.67 mm×0.14 mm
分解能 (E/ΔE)
> 2000 @ 8.2keV
光子数
7.7×1010 Photons/sec

測定装置仕様,特徴

自動読取イメージングプレート検出器(R-AXIS Ⅳ++),二次元半導体検出器(PILATUS 100K),Be窓X線イメージインテンシファイア付きCCD検出器(V7739P/ION)を備え,高精度静的測定と時分割測定を可能とする.さらにフラットパネル検出器を併設することで小角と高角の同時測定を可能とする.カメラ長は最大4mとし,試料位置に自由度を持たせることでユーザー持ち込みの大型な試料環境装置にも対応する予定.

ビームライン及び測定装置概略図

ビームライン概略図
測定装置概略図

(参考) 他施設の類似ビームライン

SPring-8
BL40B2, BL45XU, BL08B2
Photon Factory
BL6A, BL10C